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Sequential test generation based on circuit pseudo-transformation PDF

Satoshi Ohtake, Tomoo Inoue and Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 1997.7

この資料の関連情報

所蔵:
  巻号 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数
1 PDF   電子化情報 TR R000653   0
刊年 : 1997
シリーズ名 :

Information Science Technical Report ; TR97014

標題言語 : (eng)
本文言語 : (eng)
著者情報 :

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

井上, 智生 (イノウエ, トモオ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ)

ISSN : 09199527