スキャン テストジ キョウシン ノイズ テイゲン ノ タメ ノ シフト クロック シュウハスウ センタク シュホウ
高木隆志
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2015.3
1
R011666
2
禁帯出
2015
Shift-Frequency Selection Method for Reducing Resonance Noise during Scan Testing
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2015年3月
学位記番号: 修第6325号
学位授与年月日: 2015/03/24
学位の種類: 修士(工学)
学生番号: 1351063
日本語 (jpn)
高木, 隆志 (タカギ, リュウジ)
電源ノイズ
共振ノイズ
低消費電力テスト
スキャンテスト
シフトクロック
電源ノイズ共振ノイズ低消費電力テストスキャンテストシフトクロック
