Digital Library of Nara Institute of Science and Technology

Help Japanese
Login Exit

Search Result in Detail : Theses,Reports,Handouts

FPGA向けアプリケーション依存テストのためのメモリ・ブロックを用いたスキャンBISTアーキテクチャ PDF

FPGAムケ アプリケーション イゾン テスト ノ タメ ノ メモリ ブロック オ モチイタ スキャン BIST アーキテクチャ

伊藤渓太

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2014.3

Related materials

Holdings:
  Volume Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting
1 PDF   Digital Library   R010743   0
  Library (Stack) [IS]2014(2)   Restricted
Publication year : 2014
Alternative title :

Memory Block Based Scan-BIST Architecture for Application-Dependent FPGA Testing

Series title :

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2014年3月

Note :

学位記番号: 修第5922号

学位授与年月日: 2014/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1251010

Country of publication : Japan
Title language : Japanese (jpn)
Language of texts : Japanese (jpn)
Author information :

伊藤, 渓太 (イトウ, ケイタ)

Subject :

FPGA

BIST

テストポイント挿入

遅延テスト

テスト容易化設計