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FPGA向けアプリケーション依存テストのためのメモリ・ブロックを用いたスキャンBISTアーキテクチャ PDF

FPGAムケ アプリケーション イゾン テスト ノ タメ ノ メモリ ブロック オ モチイタ スキャン BIST アーキテクチャ

伊藤渓太

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2014.3

この資料の関連情報

所蔵:
  巻号 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数
1 PDF   電子化情報   R010743   0
  書庫 [IS]2014(2)   禁帯出
刊年 : 2014
別書名 :

Memory Block Based Scan-BIST Architecture for Application-Dependent FPGA Testing

シリーズ名 :

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2014年3月

注記 :

学位記番号: 修第5922号

学位授与年月日: 2014/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1251010

標題言語 : (jpn)
本文言語 : (jpn)
著者情報 :

伊藤, 渓太 (イトウ, ケイタ)

件名 :

FPGA

BIST

テストポイント挿入

遅延テスト

テスト容易化設計