An approach to reduce over-testing of path delay faults in data paths using RT-level information

An approach to reduce over-testing of path delay faults in data paths using RT-level information

Yuki Yoshikawa, Satoshi Ohtake and Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2006.2

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No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

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R003667

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詳細情報

刊年

2006

形態

5 p.

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR2006001

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

吉川, 祐樹 (ヨシカワ, ユウキ)

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

ISSN

09199527

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