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Design for testability based on single-port-change delay testing for data paths PDF

Yuki Yoshikawa, Satoshi Ohtake, Michiko Inoue, Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.8

この資料の関連情報

所蔵:
  巻号 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数
1 PDF   電子化情報 TR R003641   0
刊年 : 2005
形態 : 6 p.
シリーズ名 :

Information Science Technical Report ; TR2005005

標題言語 : (eng)
本文言語 : (eng)
著者情報 :

吉川, 祐樹 (ヨシカワ, ユウキ)

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

井上, 美智子 (イノウエ, ミチコ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ)

ISSN : 09199527