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Test generation complexity for stuck-at and path delay faults based on tau[k] - notation PDF

Chia Yee Ooi, Thomas Clouqueur and Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.5

この資料の関連情報

所蔵:
  巻号 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数
1 PDF   電子化情報 TR R003639   0
刊年 : 2005
形態 : 43 p.
シリーズ名 :

Information Science Technical Report ; TR2005003

注記 :

[k] is superscript

標題言語 : (eng)
本文言語 : (eng)
著者情報 :

Ooi, Chia Yee

Clouqueur, Thomas

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ)

ISSN : 09199527