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検索結果詳細 : 学内論文・講義資料

単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計 PDF

タンイツ タンシ ヘンカ チエン テスト ニ モトズク データ パス ノ テスト ヨウイカ セッケイ

吉川祐樹, 大竹哲史, 井上美智子, 藤原秀雄

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2005.1

この資料の関連情報

所蔵:
  巻号 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数
1 PDF   電子化情報 TR R003224   0
刊年 : 2005
形態 : 8 p.
別書名 :

Design for testability based on single-port-change delay fault testing for data paths

シリーズ名 :

Information Science Technical Report ; TR2005001

標題言語 : (jpn)
本文言語 : (jpn)
著者情報 :

吉川, 祐樹 (ヨシカワ, ユウキ)

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

井上, 美智子 (イノウエ, ミチコ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ)

ISSN : 09199527