Reducibility of sequential test generation to combinational test generation for several delay fault models

Reducibility of sequential test generation to combinational test generation for several delay fault models

Tsuyoshi Iwagaki, Satoshi Ohtake and Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2003.9

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No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

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R002725

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詳細情報

刊年

2003

形態

6 p.

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR2003009

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

岩垣, 剛 (イワガキ, ツヨシ)

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

ISSN

09199527

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