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Reducibility of sequential test generation to combinational test generation for several delay fault models PDF

Tsuyoshi Iwagaki, Satoshi Ohtake and Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2003.9

この資料の関連情報

所蔵:
  巻号 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数
1 PDF   電子化情報 TR R002725   0
刊年 : 2003
形態 : 6 p.
シリーズ名 :

Information Science Technical Report ; TR2003009

標題言語 : (eng)
本文言語 : (eng)
著者情報 :

岩垣, 剛 (イワガキ, ツヨシ)

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ)

ISSN : 09199527