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検索結果詳細 : 学内論文・講義資料

縮退故障のテスト生成アルゴリズムを用いたパス遅延故障に対するテスト生成法 PDF

シュクタイ コショウ ノ テスト セイセイ アルゴリズム ヲ モチイタ パス チエン コショウ ニ タイスル テスト セイセイ

大谷浩平, 大竹哲史, 藤原秀雄

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2002.3

この資料の関連情報

所蔵:
  巻号 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数
1 PDF   電子化情報 TR R002102   0
刊年 : 2002
形態 : 7 p.
別書名 :

A method of test generation for path delay faults using stuck-at fault test feneration algorithms

シリーズ名 :

Information Science Technical Report ; TR2002007

標題言語 : (jpn)
本文言語 : (jpn)
著者情報 :

大谷, 浩平 (オオタニ, コウヘイ)

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ)

ISSN : 09199527