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不連続再収斂順序回路のパス遅延故障に対するテスト生成法 PDF

フレンゾク サイシュウレン ジュンジョ カイロ ノ パス チエン コショウ ニ タイスル テスト セイセイホウ

岩垣剛, 大竹哲史, 藤原秀雄

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2002.1

この資料の関連情報

所蔵:
  巻号 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数
1 PDF   電子化情報 TR R001986   0
刊年 : 2002
形態 : 10 p.
別書名 :

A method of path delay test generation in sequential circuits with discontinuous reconvergence structure

シリーズ名 :

Information Science Technical Report ; TR2002001

標題言語 : (jpn)
本文言語 : (jpn)
著者情報 :

岩垣, 剛 (イワガキ, ツヨシ)

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ)

ISSN : 09199527