奈良先端科学技術大学院大学附属図書館

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An Non-scan DFT Method at RTL Based on Fixed-control Testability to Achieve 100% Fault Efficiency PDF

Satoshi Ohtake, Shintaro Nagai, Hiroki Wada, Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2000.11

この資料の関連情報

所蔵:
  巻号 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数
1 PDF   電子化情報 TR R001440   0
刊年 : 2000
シリーズ名 :

Information Science Technical Report ; TR2000009

標題言語 : (eng)
本文言語 : (eng)
著者情報 :

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

永井, 慎太郎 (ナガイ, シンタロウ)

和田, 弘樹 (ワダ, ヒロキ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ)

ISSN : 09199527