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検索結果詳細 : 学内論文・講義資料

Universal Test Complexity of Field-Programmable Gate Arrays PDF

Tomoo Inoue, Hideo Fujiwara, Hiroyuki Michinishi, Tokumi Yokohira, Takuji Okamoto

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 1999.4

この資料の関連情報

所蔵:
  巻号 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数
1 PDF   電子化情報 TR R000817   0
刊年 : 1999
シリーズ名 :

Information Science Technical Report ; TR99006

標題言語 : (eng)
本文言語 : (eng)
著者情報 :

井上, 智生 (イノウエ, トモオ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ)

道西, 博行 (ミチニシ, ヒロユキ)

横平, 徳美 (ヨコヒラ, トクミ)

岡本, 卓爾 (オカモト, タクジ)

ISSN : 09199527