シュクタイ コショウ ノ テスト セイセイ アルゴリズム ヲ モチイタ パス チエン コショウ ニ タイスル テスト セイセイ
大谷浩平, 大竹哲史, 藤原秀雄
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2002.3
In-house publ.
| No. | Printing year | Location | Call Number | Material ID | Circulation class | Status | Waiting |
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1 |
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R002102 |
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2002
7 p.
A method of test generation for path delay faults using stuck-at fault test feneration algorithms
Information Science Technical Report ; TR2002007
Japan
Japanese (jpn)
Japanese (jpn)
大谷, 浩平 (オオタニ, コウヘイ)
大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)
藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]
09199527
