• Top
  • Details (Local collection)
FPGA向けアプリケーション依存テストのためのメモリ・ブロックを用いたスキャンBISTアーキテクチャ

FPGA向けアプリケーション依存テストのためのメモリ・ブロックを用いたスキャンBISTアーキテクチャ

FPGAムケ アプリケーション イゾン テスト ノ タメ ノ メモリ ブロック オ モチイタ スキャン BIST アーキテクチャ

伊藤渓太

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2014.3

Thesis / Diss.

Volume No.

Total: 1
No. Printing year Location Call Number Material ID Circulation class Status Waiting

1

R010743

2

  • [IS]2014(2)

Restricted

Details

Publication year

2014

Alternative title

Memory Block Based Scan-BIST Architecture for Application-Dependent FPGA Testing

Series title

奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2014年3月

Note

学位記番号: 修第5922号

学位授与年月日: 2014/03/24

学位の種類: 修士(工学)

学生番号: 1251010

Country of publication

Japan

Title language

Japanese (jpn)

Language of texts

Japanese (jpn)

Author information

伊藤, 渓太 (イトウ, ケイタ)

Subject

FPGA

BIST

テストポイント挿入

遅延テスト

テスト容易化設計