Area and time co-optimization for system-on-a-chip based on consecutive testability

Area and time co-optimization for system-on-a-chip based on consecutive testability

Tomokazu Yoneda, Tetsuo Uchiyama and Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2003.2

学内論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • TR

R004338

詳細情報

刊年

2003

形態

8 p.

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR2003002

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

米田, 友和 (ヨネダ, トモカズ)

内山, 哲夫 (ウチヤマ, テツオ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

ISSN

09199527