不連続再収斂順序回路のパス遅延故障に対するテスト生成法

不連続再収斂順序回路のパス遅延故障に対するテスト生成法

フレンゾク サイシュウレン ジュンジョ カイロ ノ パス チエン コショウ ニ タイスル テスト セイセイホウ

岩垣剛, 大竹哲史, 藤原秀雄

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2002.1

学内論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • TR

R001986

詳細情報

刊年

2002

形態

10 p.

別書名

A method of path delay test generation in sequential circuits with discontinuous reconvergence structure

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR2002001

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

岩垣, 剛 (イワガキ, ツヨシ)

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

ISSN

09199527