Test Generation for Acyclic Sequential Circuits with Hold Registers

Test Generation for Acyclic Sequential Circuits with Hold Registers

Tomoo Inoue, Chiiho Sano, Takahiro Mihara, Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 1999.4

学内論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • TR

R000818

詳細情報

刊年

1999

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR99007

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

井上, 智生 (イノウエ, トモオ)

佐野, ちいほ (サノ, チイホ)

三原, 隆宏 (ミハラ, タカヒロ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

ISSN

09199527