縮退故障のテスト生成アルゴリズムを用いたパス遅延故障に対するテスト生成法

縮退故障のテスト生成アルゴリズムを用いたパス遅延故障に対するテスト生成法

シュクタイ コショウ ノ テスト セイセイ アルゴリズム ヲ モチイタ パス チエン コショウ ニ タイスル テスト セイセイ

大谷浩平, 大竹哲史, 藤原秀雄

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2002.3

学内論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • TR

R002102

詳細情報

刊年

2002

形態

7 p.

別書名

A method of test generation for path delay faults using stuck-at fault test feneration algorithms

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR2002007

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

大谷, 浩平 (オオタニ, コウヘイ)

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

ISSN

09199527