内容紹介

Relentless scaling of silicon fabrication technology coupled with lower design tolerances are making ICs increasing susceptible to wear-out related permanent faults as well as transient faults (soft errors). A well known technique for tackling both transient and permanent faults is redundant execution, specifically space redundancy, wherein a program is executed redundantly on different processors, pipelines or functional units and the results are compared to detect faults.

詳細情報

刊年

2013

形態

電子化映像資料(1時間33分59秒)

シリーズ名

情報科学研究科・ゼミナール講演 ; 平成25年度

注記

講演者所属: Indian Institute of Technology Bombay

講演日: 平成25年6月26日

講演場所: 情報科学研究科大講義室L1

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

Singh, Viendra