コテイ セイギョ カケンサセイ ニ モトズク RTL カイロ ノ ヒスキャンテスト ヨウイカ セッケイ ホウ
永井慎太郎, 和田弘樹, 大竹哲史, 藤原秀雄
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2002.2
学内論文2002
14 p.
A non-scan DFT mathod for RTL circuits based on fixed-control testability
Information Science Technical Report ; TR2002002
日本語 (jpn)
日本語 (jpn)
永井, 慎太郎 (ナガイ, シンタロウ)
和田, 弘樹 (ワダ, ヒロキ)
大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)
藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]
09199527