FPGAムケ アプリケーション イゾン テスト ノ タメ ノ メモリ ブロック オ モチイタ スキャン BIST アーキテクチャ
伊藤渓太
生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2014.3
1
R010743
2
禁帯出
2014
Memory Block Based Scan-BIST Architecture for Application-Dependent FPGA Testing
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科修士論文 ; 2014年3月
学位記番号: 修第5922号
学位授与年月日: 2014/03/24
学位の種類: 修士(工学)
学生番号: 1251010
日本語 (jpn)
伊藤, 渓太 (イトウ, ケイタ)
FPGA
BIST
テストポイント挿入
遅延テスト
テスト容易化設計
FPGABISTテストポイント挿入遅延テストテスト容易化設計
