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画像特徴点の数え上げに基づくマルチベースラインステレオ

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dc.contributor.author 佐藤, 智和 ja
dc.contributor.author 横矢, 直和 ja
dc.date.accessioned 2016-11-08T07:20:19Z en
dc.date.available 2016-11-08T07:20:19Z en
dc.date.issued 2007-11-15 en
dc.identifier.issn 1882-7810 en
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10061/11061 en
dc.description.abstract 本論文では,マルチベースラインステレオ法における高速な奥行き探索を実現するための新たな評価尺度TNIP(Total Number of Interest Points)を提案する.提案手法では,画像上の輝度値情報を直接用いず,画像特徴点の座標の幾何学的な整合性のみから奥行き値を算出することで,高速かつ省メモリな奥行き探索を実現する.また,TNIPは遮蔽による影響を受けにくいため,従来の一般的なSSSD(Sum of Sum of Squared Differences)を用いる手法に対して遮蔽にロバストな推定を実現できる.ただし,TNIPによる奥行き推定は,その推定原理から注目画素に対する正しい奥行き値よりもむしろ三次元空間中の特徴点位置に対応する奥行き値を算出するため,奥行き推定精度がSSSDに対して若干劣る場合がある.そこで本論文ではさらに,TNIPによって高速に推定された奥行き値を利用し,大幅に限定された探索範囲内をSSSDによって再探索することで,効率的かつ高精度な奥行き推定を実現できることを示す.なお,本論文では,動画像撮影時のカメラの位置・姿勢パラメータおよびカメラ内部パラメータは推定済みで既知とする. ja
dc.language.iso ja en
dc.publisher 一般社団法人情報処理学会 ja
dc.rights Copyright c 2007 by the Information Processing Society of Japan en
dc.rights ここに掲載した著作物の利用に関する注意 本著作物の著作権は情報処理学会に帰属します。本著作物は著作権者である情報処理学会の許可のもとに掲載するものです。ご利用に当たっては「著作権法」ならびに「情報処理学会倫理綱領」に従うことをお願いいたします。Notice for the use of this material The copyright of this material is retained by the Information Processing Society of Japan (IPSJ). This material is published on this web site with the agreement of the author (s) and the IPSJ. Please be complied with Copyright Law of Japan and the Code of Ethics of the IPSJ if any users wish to reproduce, make derivative work, distribute or make available to the public any part or whole thereof. ja
dc.subject en
dc.title 画像特徴点の数え上げに基づくマルチベースラインステレオ ja
dc.title.alternative Multi-baseline Stereo by Counting Interest Points en
dc.type.nii Journal Article en
dc.contributor.transcription サトウ, トモカズ ja
dc.contributor.transcription ヨコヤ, ナオカズ ja
dc.contributor.alternative Sato, Tomokazu en
dc.contributor.alternative Yokoya, Naokazu en
dc.textversion Publisher en
dc.identifier.ncid AA11560603 en
dc.identifier.jtitle 情報処理学会論文誌:コンピュータビジョンとイメージメディア ja
dc.identifier.volume 48 en
dc.identifier.issue SIG16(CVIM19) en
dc.identifier.spage 25 en
dc.identifier.epage 37 en
dc.identifier.NAIST-ID 73292633 en
dc.identifier.NAIST-ID 73292286 en
dc.relation.isIdenticalTo http://id.nii.ac.jp/1001/00017939/ en


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