内容紹介

CMOS微細化に伴い，LSIの製造ばらつき（均等に製造できないことによる性能や電力のばらつき）はますます肥大化している． これまで，製造ばらつきがあっても確実に正常に動作するような安全設計が行われてきたが， ほとんど起きないようなコーナーケースまで補完するために，非常に保守的な設計を強いられており， CMOS技術の発展による性能向上を相殺している． 本講演では，ハードウェアとソフトウェアの両面から包括的に，製造ばらつきを補完する設計手法を紹介する． アプリケーションの特徴に合わせたプロセッサの拡張を行うと同時に， 製造ばらつきによるタイミング違反（所望の時間以内に計算が終わらないことによるエラー）が起きた時だけ対処することで， 従来のプロセッサと比べ，より高いクロック周波数，かつ，少ない実行サイクル数で， 信頼性（アプリケーションの正しさ）を損なわずに効率的にシステムを動作させる手法について述べる．

詳細情報

刊年

2013

別書名

Holistic HW/SW Approach for Process Variation-Induced Timing Violation

シリーズ名

情報科学研究科・ゼミナール講演 ; 平成25年度

講義・講演レジュメ ; 平成25年度

注記

奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科 コンピューティング・アーキテクチャ研究室

講演日: 平成25年5月15日

講演場所: 情報科学研究科大講義室L1

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

原, 祐子 (ハラ, ユウコ)