レジスタ転送レベルでのデータフロー依存型回路の階層テスト容易化設計法

レジスタ転送レベルでのデータフロー依存型回路の階層テスト容易化設計法

レジスタ テンソウ レベル デノ データフロー イゾンガタ カイロ ノ カイソウ テスト ヨウイカ セッケイホウ

永井慎太郎, 大竹哲史, 藤原秀雄

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2002.4

学内論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • TR

R002103

詳細情報

刊年

2002

形態

12 p.

別書名

A method of design for hierarchical testability for data flow intensive circuits at register transfer level

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR2002008

標題言語

日本語 (jpn)

本文言語

日本語 (jpn)

著者情報

永井, 慎太郎 (ナガイ, シンタロウ)

大竹, 哲史 (オオタケ, サトシ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

ISSN

09199527