An ILP formulation for consecutive testability of system-on-a-chip

An ILP formulation for consecutive testability of system-on-a-chip

Tomokazu Yoneda and Hideo Fujiwara

生駒 : 奈良先端科学技術大学院大学, 2002.2

学内論文

巻号情報

全1件
No. 刷年 所在 請求記号 資料ID 貸出区分 状況 予約人数

1

  • TR

R001990

詳細情報

刊年

2002

形態

12 p.

シリーズ名

Information Science Technical Report ; TR2002005

標題言語

英語 (eng)

本文言語

英語 (eng)

著者情報

米田, 友和 (ヨネダ, トモカズ)

藤原, 秀雄(1946-) (フジワラ, ヒデオ) [ Huziwara, Hideo ] [ Fujiwara, Hideo ]

ISSN

09199527